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當前位置:首頁產(chǎn)品中心半導體專用檢測儀器設備XRDFreiberg-Omega/Theta XRDOmega/Theta XRD Mapping面掃功能

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能
產(chǎn)品簡介

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定義的網(wǎng)格進行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小,小的網(wǎng)格間距約為1毫米。

產(chǎn)品型號:Freiberg-Omega/Theta XRD
更新時間:2024-09-12
廠商性質:代理商
訪問量:1374
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Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定義的網(wǎng)格進行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小,小的網(wǎng)格間距約為1毫米。


 


繪圖階段可以與Omega掃描結合起來,以獲得晶體方向圖,或與搖擺曲線測量結合起來,以獲得表面的扭曲圖。可提供用于顯示和分析的軟件包。

 

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

是診斷晶體生長過程中和制造過程中出現(xiàn)的質量問題的一個寶貴工具


即使在單晶中,晶體取向也可以在表面上表現(xiàn)出微小的變化,這是由晶格缺陷引起的內部應變造成的。有序生長的薄膜也可以有一個有趣的面內取向分布。

繪制一個表面需要大量的測量。在這里,歐米茄掃描方法可以提供其速度方面的優(yōu)勢。圖中顯示的是在一個(Si,Ge)固溶體晶片上測量的取向圖。較大的方向差是0.03°。同心圓是按照晶體的生長環(huán)進行的。

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