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  • 20245-22
    布魯克X射線衍射儀:精準揭示材料晶體結構

    在現代材料科學領域,對材料內部結構的精確分析是至關重要的。其中,X射線衍射技術(XRD)是一種極為強大的工具,它能夠揭示出材料晶體結構的秘密。布魯克公司生產的X射線衍射儀在這方面具有廣泛的應用,并且以其高精度和可靠性而著稱。X射線衍射儀的核心原理是利用X射線與晶體格點間的散射現象。當一束X射線照射到樣品上時,不同晶面會按照布拉格定律散射X射線,形成特定的衍射圖譜。通過分析這些衍射峰的位置、強度和形狀,研究人員可以推斷出材料的晶體結構、相組成、晶格常數以及微觀應力等信息。使用布...

  • 20245-15
    喜訊 | Bruker SkyScan 2214 CMOS“落戶”束蘊儀器旗下實驗室

    公司簡介束蘊儀器(上海)有限公司旗下的倫琴實驗室是國內專門聚焦于X射線相關檢測的科研機構。實驗室創立至今,一直秉承著通過為客戶提供專業的X射線檢測分析服務和多方面的解決方案來輔助我司銷售工作的運營理念,致力于為公司的儀器銷售業務提供助力。我們深知,先進的科研設備和專業的科研能力是推動公司銷售業務不能發展的關鍵所在,為此,束蘊儀器以廠家應用實驗室標準配置了行業內配置先進的儀器設備,并組建了由行業內經驗豐富的應用工程師組成的技術團隊,以求通過實驗結果的展現來幫助客戶更為直觀高效地...

  • 20244-22
    三維重構成像X射線顯微鏡助力材料和生物科學領域

    三維重構成像X射線顯微鏡是一種先進的顯微鏡設備,通過利用X射線的特性,能夠實現對微觀物體的三維成像和分析。它在材料科學、生物醫學和納米技術等領域的應用,為我們揭示了微觀世界的奧秘,推動了科學研究和技術發展的突破。三維重構成像X射線顯微鏡的工作原理是利用X射線的穿透性和散射性質。當X射線通過樣品時,會與樣品中的原子發生相互作用,產生散射和吸收現象。通過測量和分析樣品中的X射線散射和吸收信息,X射線顯微鏡可以重建出樣品的三維結構和成分分布,實現對微觀物體的高分辨率成像。三維重構成...

  • 20243-27
    高效選型 · 技術迭代|束蘊儀器助力大規模儀器設備更新

    政策背景日前,國家印發《推動大規模設備更新和消費品以舊換新行動方案》,強調實行大規模設備更新和消費品以舊換新,其中提到“提升教育文旅醫療設備水平。推動符合條件的高校、職業院校(含技工院校)更新置換先進教學及科研技術設備,提升教學科研水平。嚴格落實學科教學裝備配置標準,保質保量配置并及時更新教學儀器設備”。在此戰略背景下,束蘊儀器緊跟國家政策,結合自身發展,高效選型,技術迭代,提供高級、智能、綠色、安全的科學儀器,助力各大高校及科研院所、企業等提供全部的儀器設備更新解決方案。束...

  • 20243-24
    PDF衍射卡片在地質學領域也具有廣泛的應用

    在材料科學、化學、地質學和生物學等領域中,晶體結構分析是一項關鍵的研究工作。PDF(PowderDiffractionFile)衍射卡片作為一種用于晶體結構分析的重要工具,發揮著重要的作用。它包含了大量材料的標準衍射圖譜數據,通過對衍射實驗得到的數據與標準數據進行比對,能夠為研究人員提供豐富的晶體結構信息。PDF衍射卡片在材料研究中具有重要意義。在新材料的合成和應用研究中,科研人員需要快速、準確地對材料的晶體結構進行分析。通過衍射實驗獲取的數據與衍射卡片中的標準數據進行比對,...

  • 20243-13
    祝賀束蘊儀器榮獲布魯克AXS-2023年度全球銷售狀元

    祝賀束蘊儀器榮獲布魯克AXS2023年度全球銷售狀元狀在2024年的3月11日至3月13日,布魯克AXS公司的經銷商年度盛會于洛陽華美達酒店圓滿舉行。在這個令人難忘的時刻,束蘊儀器(上海)有限公司因其2023年的業績表現,被授予了全球銷售狀元的榮譽,George.Tang為我們頒發了獎項。束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,始終秉承"技術引入市場,服務創造價值"的理念,致力于將先進的分析儀器和技術服務引入中國市場。公司憑借在半導體材料、生物制藥、鋰電新能源等多個領域的專業知識...

  • 20243-6
    展會邀請 | 2024年江西省科學儀器行業高質量發展大會

    會議背景為貫徹落實**在江西考察時的重要講話精神,推動長江經濟帶高質量發展,切實發揮科學儀器行業在科技創新和產業升級方面的重要支撐作用,多方面踐行搶位發展、錯位發展的工作思路,彰顯行業社會組織聚焦“走在前、勇爭先、善作為”的行為目標,在江西南昌舉辦“江西省科學儀器行業高質量發展大會”。本次高質量發展論壇會議旨在適應新時代的需求,推動江西省科學儀器行業向高質量發展轉型,提升創新能力和市場競爭力,為行業搭建一個重要的平臺,從而進一步促進科學儀器行業的交流合作,推動科技創新與產業融...

  • 20241-22
    晶圓片在線面掃檢測儀:高效、精確的晶片檢測工具

    晶圓片在線面掃檢測儀(WaferSurfaceInspectionSystem)是一種先進的設備,用于在線檢測半導體晶圓片的表面缺陷和質量問題。它通過高速的光學成像技術和精確的圖像處理算法,能夠快速、準確地識別和記錄晶圓上的缺陷,為半導體制造業提供高質量的生產保障。晶圓片是半導體芯片制造的重要基材。然而,由于制程和環境等因素,晶圓片上可能存在各種缺陷,如劃痕、缺陷、污染和顆粒等。這些缺陷可能對半導體的性能和可靠性產生重大影響。為了確保產品質量和生產效率,晶圓片表面的檢測和篩選...

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